| 公開(公告)號 | CN1147590C |
| 公開(公告)日 | 2004.04.28 |
| 申請(專利)號 | CN99110795.0 |
| 申請日期 | 1999.08.13 |
| 專利名稱 | 基于比率法檢測DNA芯片熒光信號的方法 |
| 主分類號 | C12Q1/68 |
| 分類號 | C12Q1/68;G01N33/50 |
| 分案原申請?zhí)? | |
| 優(yōu)先權 | |
| 申請(專利權)人 | 楊夢甦 |
| 發(fā)明(設計)人 | 楊夢甦;雷國華 |
| 地址 | 香港達之路83號香港城市大學生物及化學系 |
| 頒證日 | 2004.04.28 |
| 國際申請 | |
| 進入國家日期 | |
| 專利代理機構 | 杭州求是專利事務所有限公司 |
| 代理人 | 張法高 |
| 國省代碼 | 香港;HK |
| 主權項 | 一種基于比率法檢測DNA芯片熒光信號的方法，其特征在于把3’端標記熒光物質，5’端標記氨基的寡核苷酸探針與僅5’端標記氨基的寡核苷酸探針混合點樣，通過監(jiān)測DNA芯片上的寡核苷酸探針的點樣量、探針固定量的熒光強度，控制芯片的制作質量；根據(jù)固定探針的密度，選擇用另一種熒光物質標記的目標DNA分子的最佳雜交濃度、雜交時間，以獲得最佳的雜交效果；根據(jù)寡核苷酸探針熒光物質CY-5的熒光強度與目標DNA分子上的熒光物質的熒光強度的比值，確定目標DNA分子與寡核苷酸探針的結合情況，消除了由于點樣不均勻性而產生的雜交熒光信號差別，所說的標記寡核苷酸探針的熒光物質與標記目標DNA分子的熒光物質的發(fā)射光譜不重疊。 |
| 摘要 | 本發(fā)明公開了一種基于比率法檢測DNA芯片熒光信號的方法。它利用一種熒光物質標記寡核苷酸探針和另一種熒光物質標記目標DNA分子，通過檢測DNA芯片上的寡核苷酸探針的點樣量、探針固定量(密度)的熒光強度，控制芯片的制作質量；根據(jù)寡核苷酸探針熒光強度與目標分子熒光強度的比值，來衡量該點是否有雜交信號，本發(fā)明的優(yōu)點：該方法能夠監(jiān)測芯片表面化學處理是否均勻、固定探針是否均勻，同時解決了由于固定探針數(shù)量的變化而導致的熒光信號變化的問題。 |
| 國際公布 |
